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  • LT-sSNOM 低溫顯微鏡
    LT-sSNOM 低溫顯微鏡

    LT-sSNOM 低溫顯微鏡具有近場成像和光譜學的能力,以及接觸、動態、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等其他 AFM 模式。樣品界面由離軸拋物面鏡照射,散射光由外差干涉儀檢測。地形圖像可以與光學圖像同時獲得。

    更新時間:2025-07-24型號:瀏覽量:162
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