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LT-sSNOM 低溫顯微鏡

簡要描述：LT-sSNOM 低溫顯微鏡具有近場成像和光譜學的能力，以及接觸、動態、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等其他 AFM 模式。樣品界面由離軸拋物面鏡照射，散射光由外差干涉儀檢測。地形圖像可以與光學圖像同時獲得。

產品型號：

所屬分類：LT-sSNOM 低溫顯微鏡

更新時間：2025-07-24

廠商性質：生產廠家

詳情介紹

LT-sSNOM 低溫顯微鏡


LT-sSNOM 低溫顯微鏡


  • 配備金屬反射鏡，波長范圍 532 納米 - 20 微米

  • 帶有光纖干涉儀的原子力顯微鏡（AFM）

  • 壓電掃描儀，4K（極低溫環境 ）下掃描面積 30×30×15 微米

  • XYZ 樣品納米定位臺，行程 6×6×12 毫米

  • 離軸拋物面鏡用 XYZ 納米定位臺，行程 4×4×6 毫米

  • 電阻式位置傳感器，分辨率 200 納米

  • 外徑 49 毫米

  • 溫度范圍 10 毫開爾文至 300 開爾文

  • 磁場強度最高達 31 特斯拉

  • 樣品架帶 8 個電觸點

  • 支持接觸式 / 動態 / 非接觸式原子力顯微鏡（ncAFM）/ 磁力顯微鏡（MFM）/ 導電原子力顯微鏡（cAFM）/ 開爾文探針力顯微鏡（KPFM）/ 脈沖力顯微鏡（PRFM）/ 靜電力顯微鏡（EFM）模式


LT-sSNOM 低溫顯微鏡




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