簡要描述：KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統;經濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和配置相結合，可提供最大的通用性，可測量厚度為 1 納米至 3 毫米的薄膜。
產品型號：
所屬分類：薄膜厚度測量儀
更新時間：2025-03-10
廠商性質：生產廠家
只需按下一個按鈕，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。設置同樣簡單, 只需插上設備到您運行Windows™系統計算機的USB端口, 并連接樣品平臺 , KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統已在世界各地有成千上萬的應用被使用. 事實上，我們每天從我們的客戶學習更多的應用。
擇您的KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統主要取決於您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）
集成光譜儀/光源裝置
FILMeasure 8 軟件
FILMeasure 獨立軟件 (用于遠程數據分析)
SS-3 樣品平臺 及對應 光纖電纜
參考材料
厚度標準
整平濾波器 (用于高反射基板)
備用燈
| 型號 | 厚度范圍* | 波長范圍 |
| F20 | 15nm-70μm | 380-1050nm |
| F20-EXR | 15nm-250μm | 380-1700nm |
| F20-NIR | 100nm-250μm | 950-1700nm |
| F20-UV | 1nm-40μm | 190-1100nm |
| F20-UVX | 1nm-250μm | 190-1700nm |
| F20-XT | 0.2μm-450μm | 1440-1690nm |
| F3-sX系列 | 10μm-3mm | 960-1580nm |
地址：深圳市寶安區胤璇中心大廈T4棟2802室
郵箱：support@firstnanosystem.com
傳真：400-9999-185
您的位置：
咨詢電話