KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)

簡要描述：KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)為硬盤驅(qū)動(dòng)器基板和介質(zhì)提供了高級(jí)缺陷檢測和分類功能。7100系列硬盤驅(qū)動(dòng)器缺陷檢測和分類系統(tǒng)以經(jīng)過生產(chǎn)驗(yàn)證的Candela產(chǎn)品系列為基礎(chǔ)，可幫助制造商對關(guān)鍵的亞微米缺陷進(jìn)行檢測和分類，如微凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷，從而最大限度地提高良率并降低總檢測成本。

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：表面缺陷檢測系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-03-09

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

留言詢價(jià)87978797威尼斯

詳情介紹

KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)這套檢測系統(tǒng)以激光為基礎(chǔ)，能夠?qū)τ脖P驅(qū)動(dòng)器的基板和介質(zhì)進(jìn)行高靈敏度的表面缺陷檢測，同時(shí)具有多條光學(xué)路徑，用于對亞微米凹坑和微粒進(jìn)行分類。自動(dòng)化模型Candela 7140配有片盒對片盒傳輸系統(tǒng)。

KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)高級(jí)缺陷檢測和分類系統(tǒng)是專為硬盤驅(qū)動(dòng)器基板和介質(zhì)而設(shè)計(jì)的。高功率雙波長激光器針對當(dāng)前的關(guān)鍵缺陷挑戰(zhàn)進(jìn)行了優(yōu)化，多通道散射檢測器為全系列基板上亞微米凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷的分類提供了更高的靈敏度。KLA Candela® 7100系列的功能和穩(wěn)定性確保了一個(gè)平臺(tái)可用于多個(gè)工藝控制應(yīng)用點(diǎn)。

KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)